USB3.1（Universal Serial Bus 3.1，通用串行总线3.1）作为新一代高速串行接口技术，凭借高达10Gbps（Gen2）的数据传输速率和更高效的编码机制，被广泛应用于消费电子数据传输（如超高速移动固态硬盘、4K摄像机素材传输、高性能外置显卡坞）、电脑及移动设备连接（Type-C U盘、显示器扩展坞、高速外设）、工业设备高速数据交互（机器视觉系统、自动化控制数据采集、高精度测试仪器通信）等场景，并支持强大的电力传输（USB PD）能力。由于应用场景中存在频繁热插拔、复杂电磁环境（工业现场强干扰、多高速设备并行工作），USB3.1系统更易受到静电放电（ESD）、浪涌冲击（尤其是支持高功率PD时的插拔瞬态、电网耦合噪声）、高速信号完整性劣化（包括信号串扰、反射损耗）的影响。这些威胁可能导致数据传输中断或错误率飙升、设备握手失败或无法识别、接口物理损坏，甚至危及主控制器或后端昂贵的核心芯片。为保护USB 3.1接口及关联系统安全，需在接口设计上采取多层防护措施，如接口处为每条信号线部署超低电容的TVS二极管，电源线串接磁珠，差分对串接静噪滤波器，并结合良好的接地、屏蔽设计等措施，通过合理的防护设计，可显著提升设备的可靠性，延长设备使用寿命，确保系统长期稳定运行。
IEC 61000-4-2、EN 61000-4-2、GB/T 17626.2
1、通过在电源线上并联高压大通流ESD保护器件，满足目前消费类USB充电端口的8/20μS浪涌测试；
2、信号线上并联超低容值集成的ESD保护器件，布线简洁、占板面积小且SMT贴装生产更高效便捷；
3、电源线上串联磁珠，信号线上串联静噪滤波器，能有效抑制EMI电磁噪声干扰；
4、在不影响数据传输的前提下满足EMC电磁兼容设计的需求，让系统电路得到有效全面的防护。
▲展示方案仅供参考，如需详细设计方案或根据您的保护等级要求进行定制，请随时与我们联络，我们将根据您的具体需求提供专业的技术支持和解决方案。
| 规格型号 | 封装类型 | Pppm@ 10/1000μs (W) |
VRWM Max. (V) |
VBR@IT Min. (V) |
VBR@IT Max. (V) |
IT (mA) |
VC@IPP Max. (V) |
IPP@Max 10/1000μs (A) |
IR@VRWM Max. (uA) |
AEC-Q101 | Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | Imp.Com. (Ω)±25% @100MHz |
DCR Max.(Ω) |
Rated Current Max.(mA) |
Rated Voltage (V) |
Withstand Voltage (V) |
Insulation Resistance Min.(MΩ) |
Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | Impedance (Ω) |
Z Test Freq. (MHz) |
DCR Max.(Ω) |
Rated Current Max.(mA) |
Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | Impedance (Ω) |
Z Test Freq. (MHz) |
DCR Max.(Ω) |
Rated Current Max.(mA) |
Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | Imp.Com. (Ω)±25% @100MHz |
DCR Max.(Ω) |
Rated Current Max.(mA) |
Rated Voltage (V) |
Withstand Voltage (V) |
Insulation Resistance Min.(MΩ) |
Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | Impedance (Ω) |
Z Test Freq. (MHz) |
DCR Max.(Ω) |
Rated Current Max.(mA) |
Datasheet |
|---|
| 规格型号 | 封装类型 | VRWM Max. (V) |
VBR Min. (V) |
Vc @1A （V） |
IPP Max. (A) |
CJ@ 1MHZ (PF) |
IR@VRWM Max. (uA) |
Protectable Lines |
AEC-Q101 | Datasheet |
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| 规格型号 | 封装类型 | Rated Voltage Vdc(Max) (V) |
Clamping Voltage Vc(V) Typical |
Trigger Voltage Vt(V) Typical |
Leakage Current IL@Vdc (µA) |
Cj @1MHz (pF) |
Datasheet |
|---|
